Update auf DIN EN 50678 u. 50699 für ST 755+/ ST 760+

In unserem Beitrag vom Oktober 2022 hatten wir bereits angekündigt, dass BENNING für seine Highend Gerätetester ST755, ST755+, ST760 und ST760+ ein Update auf die Normen DIN EN 50678 VDE 0701 sowie DIN EN 50699 VDE 0702 noch in diesem Jahr herausbringen wird.

Dieses Update ist in dieser Woche freigeschaltet worden.

Am einfachsten kann das Update eingespielt werden, wenn der Gerätetester in das interne WLAN eingebunden wird.

Hierzu loggen Sie sich als Administrator ein und wählen im Menü:

> Einstellungen
> Experten-Eistellungen
> Update (GUI, Firmware)
> über Netzwerk

Das Stromkabel des Gerätetesters muss hierfür eingesteckt sein. Das Gerät lädt anschließend die neueste Firmware vom BENNING-Server und startet den Updatevorgang automatisch.

Folgende Änderung gibt BENNING für die Firmware an:

Aenderungen in Version 1.15
1. Anpassung für die neue Norm VDE 0701 und VDE 0702. Es wird die Beruehrungsstrommessung und die Ableitstrommessung mit 1kOhm anstatt 2kOhm duchgefuehrt.

Dies sind die Änderungen der GUI (Benutzerführung):

Aenderungen 1.05 vom 19.12.2022
* Unterstuetzung der neuen Normen VDE 0701 und VDE 0702.
* Im Deutschen werden die VDE Normen angezeigt. In allen anderen Sprachen werden die EN-Normbezeichnungen angezeigt.
* WLAN: Verbesserung bei der Anzeige der vorhandenen WLANs.
* Fehlerhandling hinzugefuegt.
* Kommunikation zum Messkontroller verbessert.
* Null-Pointer beim Pruefintervall wird abgefangen.
* Anschlusstest: Der Wasserkocher wird schon gelegentlich als Kurzschluss erkannt. Messstabilitaet erhoeht.
* Automatik-Pruefung: Geraetebezeichnung anzeigen: Die Geraete sind jetzt nach ID sortiert.
* Das Druecken der Pause-/Weiter-Taste fuehrte zu Problemen.
* PRCD-Pruefung: Die Pruefung bricht am Ende nicht mehr ab.
* Kabelpruefung: Die Pruefung bricht nicht mehr grundlos ab.
* Das Logging ist wieder aktiviert
* Uebersetzungen korrigiert.

2 Gedanken zu „Update auf DIN EN 50678 u. 50699 für ST 755+/ ST 760+

  1. Hallo
    Ich habe seit dem Update an dem Gerät
    folgendes Problem
    wenn auf der Speicherkarte mehrere Datenbanken vorhanden sind und die Backupstein auch vorhanden lassen sich die einzelnen Datenbanken auswählen aber beim auswählen der Abteilungen oder des Prüflinge bleibt die vorherige Datenbank erhalten.
    gibt es eine Möglichkeit dieses Problem zu beheben

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